Mikroskop sił atomowych NAIO AFM to idealna platforma edukacyjna o zwartej konstrukcji o niespotykanej wytrzymałości wobec codziennej pracy ze studentami.
Cechą charakterystyczną mikroskopu jest łatwość obsługi oraz duża elastyczność układu skanowania. Zakres pomiarowy systemu NaioAFM wynosi 70 x 70 x 14 µm, system posiada kontroler zintegrowany z podstawą mikroskopu wraz z układem antywibracyjnym.
|
Przedstawiciel:
Katarzyna Szczygielska |
---|
|
Przedstawiciel:
Katarzyna Szczygielska
Serwisowani producenci (1):
Nanosurf
|
|
---|